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Onto Innovation Inc从事用于执行宏观缺陷检测和2D/3D光学计量、光刻系统和过程控制分析软件的过程控制工具的设计、开发、制造和支持。这些工具主要用于裸硅晶圆制造商、半导体晶圆制造商和先进封装制造商。该公司的产品包括自动化计量系统、集成计量系统、硅片全表面检测/表征、宏观缺陷检测、自动缺陷分类和图案分析、良率分析、不透明薄膜计量、探针卡测试和分析、先进封装光刻、工艺控制软件和产量管理软件。该公司的产品还用于其他几个技术市场的过程控制,包括发光二极管、垂直腔面发射激光器、微机电系统、数据存储以及工业和科学应用的制造。
名称 | 年龄 | 任期 | 标题 |
---|---|---|---|
Christopher A. Seams | 58 | 2019 | Independent Chairman |
Michael P. Plisinski | 51 | 2006 | CEO & Director |
May Su | 65 | 2022 | Independent Director |
Christine A. Tsingos | 64 | 2014 | Independent Director |
Susan D. Lynch | 62 | 2024 | Independent Director |
Stephen D. Kelley | 62 | 2023 | Independent Director |
David Brian Miller | 67 | 2015 | Independent Director |
Leo Berlinghieri | 70 | 2008 | Independent Director |
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